用於晶圓檢測和計量的三軸定位系統

用於晶圓檢測和計量的軸定位系統

客製化平板顯示器解決方案 我們為要求嚴苛的平板顯示器產業提供的解決方案涵蓋從AOI到陣列測試儀,再到光電間隔片測量等一系列流程。中輝可製造用於三軸定位系統和多軸定位系統的精密花崗岩底座。

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發佈時間:2021年12月31日