大多數工業CT都花崗岩結構我們可以生產花崗岩機器底座組件,帶導軌和螺絲為您提供客製化的X光和CT檢查服務。
Optotom 和 Nikon Metrology 贏得了向波蘭凱爾採理工大學交付大型 X 射線電腦斷層掃描系統的招標。 Nikon M2 系統是一款高精度模組化偵測系統,配備專利的超精密穩定八軸機械手臂,機械手臂安裝在計量級花崗岩底座上。
根據應用需求,使用者可以選擇三種不同的光源:尼康獨有的450 kV微焦點光源(帶旋轉靶),用於以微米級分辨率掃描大型高密度樣品;450 kV迷你焦點光源,用於高速掃描;以及225 kV微焦點光源(帶旋轉靶),用於掃描小型樣品。該系統將配備平板偵測器和尼康專有的曲面線性二極體陣列(CLDA)偵測器,後者可優化X射線的收集,同時避免捕捉不必要的散射X射線,從而獲得驚人的影像清晰度和對比度。
M2系統非常適合檢測各種尺寸的零件,從小型低密度樣本到大型高密度材料均可適用。該系統將安裝在一個專門建造的掩體中。 1.2公尺高的牆壁已預留升級空間,以便將來升級到更高能量範圍。這套功能齊全的系統將成為世界上最大的M2系統之一,為凱爾採大學提供極大的靈活性,以支持其在科研和本地工業領域的各種應用。
基本系統參數:
- 450kV微聚焦輻射源
- 450kV微焦點輻射源,「旋轉靶」型
- 225 kV“旋轉靶”型輻射源
- 225 kV“多金屬靶”輻射源
- 尼康 CLDA 線性探測器
- 解析度為1600萬像素的面板探測器
- 可測試重量達 100 公斤的零件
發佈時間:2021年12月25日