大多數工業CT花崗岩結構.我們可以製造帶有導軌和螺絲的花崗岩機器底座組件為您的客製化 X 光和 CT。
Optotom 和 Nikon Metrology 成功得標,為波蘭凱爾採理工大學提供一套大型 X 光電腦斷層掃描系統。 Nikon M2 系統是一款高精度模組化偵測系統,配備基於計量花崗岩基座、專利的超高精度穩定 8 軸機械手。
根據應用需求,使用者可以選擇三種不同的光源:尼康獨特的450 kV微焦點光源(帶旋轉靶),用於以微米分辨率掃描大型高密度樣品;450 kV微焦點光源(用於高速掃描);以及225 kV微焦點光源(帶旋轉靶),用於掃描較小的樣品。該系統將配備平板偵測器和尼康專有的曲面線性二極體陣列 (CLDA) 偵測器,可優化X射線的收集,避免捕捉不必要的散射X射線,從而獲得令人驚嘆的影像清晰度和對比度。
M2 非常適合檢測各種尺寸的零件,從小型低密度樣品到大型高密度材料。該系統的安裝將在一個專門建造的掩體中進行。 1.2 公尺高的牆體已做好未來升級到更高能量範圍的準備。這套全功能係統將成為世界上最大的 M2 系統之一,為凱爾採大學提供極大的靈活性,以支援科學研究和本地工業領域的所有潛在應用。
基本系統參數:
- 450kV微焦點輻射源
- 450kV微焦點輻射源,「旋轉靶」型
- 225 kV“旋轉靶”型輻射源
- 225 kV“多金屬靶”輻射源
- 尼康CLDA線性偵測器
- 解析度為1600萬像素的面板探測器
- 可測試重達 100 公斤的零件
發佈時間:2021年12月25日