影響座標測量機同軸度的因素

坐標測量機（CMM）廣泛應用於機械、電子、儀器和塑膠等行業。 CMM 是一種高效的尺寸數據測量和獲取方法，因為它能夠取代多種表面測量工具和昂貴的組合量規，將複雜測量任務所需的時間從數小時縮短到數分鐘——這是其他儀器無法實現的。

影響座標測量機的因素：影響座標測量機同軸度測量的因素。在國家標準中，座標測量機的同軸度公差區定義為直徑公差為 t 且與座標測量器基準軸同軸的圓柱面區域。它包含三個控制要素：1）軸間；2）軸與公共軸；3）中心到中心。影響二維半測量同軸度的因素：影響二維半測量同軸度的主要因素是被測要素和基準要素的中心位置和軸線方向，特別是軸線方向。例如，在測量基準圓柱體上的兩個橫截面圓時，連接線用作基準軸。

在被測圓柱體上測量兩個橫斷面圓，作一條直線，然後計算同軸度。假設基準面上兩個載荷面之間的距離為10 mm，基準載荷面與被測圓柱體橫截面之間的距離為100 mm，如果基準面上第二個橫截面圓的中心位置與該橫截面圓的中心位置存在5 μm的測量誤差，則基準軸線延伸到被測圓柱體橫截面時，其位置已偏離50 μm（5 μm = 100 μm = 100 μm（50 μm = 100 μm）。此時，即使被測圓柱體與基準面同軸，二維和2.5維測量結果仍將存在100 μm的誤差（相同角度的公差值對應直徑，50 μm對應半徑）。