在平板顯示器 (FPD) 製造過程中，會進行測試以檢查面板的功能，並進行測試以評估製造流程。
陣列過程中的測試
為了測試陣列製程中的面板功能，需要使用陣列測試儀、陣列探針和探針單元進行陣列測試。此測試旨在檢驗玻璃基板上面板所用TFT陣列電路的功能，並檢測是否有斷線或短路。
同時，為了測試陣列製程，檢查製程流程是否成功並對前一製程進行回饋，使用直流參數測試儀、TEG探頭和探頭單元進行TEG測試。 （「TEG」代表測試元件組，包括TFT、電容元件、導線元件以及陣列電路的其他元件。）
單元/模組過程中的測試
為了測試電池製程和組件製程中的面板功能，進行了照明測試。
面板被啟動並點亮，以顯示測試圖案，檢查面板操作、點缺陷、線缺陷、色度、色差（不均勻性）、對比度等。
有兩種檢測方法：操作員目視面板檢測和使用 CCD 相機自動進行面板檢測，後者可自動執行缺陷檢測和合格/不合格測試。
電池測試儀、電池探針和探針單元用於檢測。
此模組測試還採用了一種不均勻性檢測和補償系統，該系統能夠自動檢測顯示器中的不均勻性，並透過光控補償消除不均勻性。
發佈時間：2022年1月18日