用於 FPD 檢測的精密花崗岩

在平板顯示器 (FPD) 製造過程中，會進行檢查面板功能的測試和評估製造過程的測試。

陣列過程中的測試

為了測試陣列製程中的面板功能，陣列測試需要使用陣列測試儀、陣列探針和探針單元進行。此測試旨在測試在玻璃基板上形成的面板TFT陣列電路的功能，並檢測任何斷線或短路。

同時，為了測試陣列製程中的製程，檢查過程是否成功並回饋前一過程，需使用直流參數測試器、TEG探針及探針單元進行TEG測試。 （「TEG」代表測試元件組，包含TFT、電容元件、導線元件以及陣列電路的其他元件。）

單元/模組流程中的測試
為了測試電池片製程及模組製程的面板功能，進行了點燈測試。
面板被啟動並照亮以顯示測試圖案，以檢查面板操作、點缺陷、線缺陷、色度、色差（不均勻性）、對比度等。
有兩種檢查方法：操作員目視面板檢查和使用 CCD 攝影機的自動面板檢查，自動執行缺陷檢測和通過/失敗測試。
使用電池測試器、電池探針和探針單元進行檢查。
模組測試還採用了Mura檢測和補償系統，可以自動檢測顯示器中的Mura或不均勻現象，並透過光控補償消除Mura。